Nov
23
IMS Messsysteme lanserar CCS – ny teknik för dokumentation av valsade band
IMS Messsysteme GmbH är världsledande inom optisk processmätning av valsade produkter. IMS presenterar nu den revolutionerande CCS-tekniken för bl.a. breddmätning samt detektering av hål och kantdefekter på tunna band.
CCS står för Camera-Cluster-System, en teknik som gör det möjligt att mäta och dokumentera det kompletta produktionsförloppet av valsade band!
För att förstå den nya mättekniken och dess fördelar och möjligheter, ta gärna en titt i bifogad broschyr “Width gauges, Hole and Edge Defect Detectors”
Har ni sedan frågor på systemet eller vill ha en budgetoffert, vänligen kontakta oss per telefon, mail eller via Kontaktsidan!
Kommentarsfältet är stängt